IEC 60747-5-1 AMD 2-2002 半导体分立器件和集成电路.第5-1部分:光电子器件.总则
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时间:2024-05-13 12:18:25
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【英文标准名称】:Discretesemiconductordevicesandintegratedcircuits-Part5-1:Optoelectronicdevices;General;Amendment2
【原文标准名称】:半导体分立器件和集成电路.第5-1部分:光电子器件.总则
【标准号】:IEC60747-5-1AMD2-2002
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2002-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:符号;光电子器件;电子设备及元件;半导体器件;显示装置;分立器件;集成电路
【英文主题词】:Acceptancespecification;Definitions;Diodes;Discretedevices;Displaydevices;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;Limits(mathematics);Measuringtechniques;Optoelectronicdevices;Ratings;Reliability;Semiconductordevices;Symbols;Terminology
【摘要】:
【中国标准分类号】:L54
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:15P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体分立器件和集成电路.第5-1部分:光电子器件.总则
【标准号】:IEC60747-5-1AMD2-2002
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2002-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:符号;光电子器件;电子设备及元件;半导体器件;显示装置;分立器件;集成电路
【英文主题词】:Acceptancespecification;Definitions;Diodes;Discretedevices;Displaydevices;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;Limits(mathematics);Measuringtechniques;Optoelectronicdevices;Ratings;Reliability;Semiconductordevices;Symbols;Terminology
【摘要】:
【中国标准分类号】:L54
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:15P.;A4
【正文语种】:英语
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